PearL

PearL 監測系統分析探測表面經激光光激發後的光致發光輻射光譜。專門為即時整合進生產線所設計。光激發螢光(sPL)可取得能隙、電子缺陷和材料相關組成的資訊,如鎵/(鎵+銦)比值和 CIGS 太陽能電池中銅的含量比例。LayTec 的 sPL 具備以上量測且分析時間僅 100 ms。

PearL 在生產條件下的優勢:

  • 整個模組於不同點上的確切 CIGS 特性描述;
  • 以分辨關於能隙、材料組成和 CIGS 吸收層材料品質資訊。
  • 吸收層沉積後直接分析,不影響其他層;
  • 在成本密集的後段製程前辨識出有缺陷的基板;
  • 僅 0.1 秒的量測時間。

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產品敘述:PearL 以 LayTec 的模組化平台為基礎進行在線光學調校設定。單一 PearL 控制器可接多達三個光學頭,以同時監控移動樣品上的三個位置。如此可以精確監測從中心到邊緣的材料組成一致性。
一個控制器單元含有所有光學和電子元件,包括即時嵌入控制器,以達最佳可靠度。光纖引導控制器單元和量測位置之間的量測光。微型量測頭以最小尺寸提供最佳的光學效能。連接至控制單元的量測電腦能精密地自動化分析、監測和儲存資料。此外,PearL 也可以透過多種協定整合進生產機器和軟體系統,如 OPC、Ethernet、ProfiBus 等。
在PL峰值位置測量的典型精度為 ± 0.5 nm。依此解析度,對 CIGS 中鎵成分的敏感度為 ± 0.01 GGI,其中 CCI 是鎵/(鎵+銦)質量比值。

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欲瞭解 PearL 如何最佳化您的 CIGS 製程,請聯繫 mail@laytec.de 或撥 +49(0)30 89 00 55-0。

產品資訊:

應用領域:

  • 快速檢測 CIGS 產線吸收層中的有效鎵含量成分
  • 產品功能適用碲化鎘吸收層

產品特點

  • 具備客製光學頭和固定器適用所有在線製程
  • 在線整合100%的生產模組檢測
  • 透過多頭配置以分辨光激發螢光光譜量測
  • 在移動的基板移動基板在線測量的快速數據採集
  • 高達每秒10次測量
  • 關鍵參數的自動頻譜分析計算,如CIGS層的鎵/(鎵+銦)和  銅的含量
  • 透過 Profibus、Ethernet、TCP/IP 或其他協定自動整合太陽能光電產線軟體


產品消息

PearL qualified for CIGS monitoring in high-volume PV production


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