Laytec, Knowledge is Key
language
English
한국어
日本語
简体中文
繁體中文
Sign in
Newsletter
Contact
LayTec  >  Sitemap
 
首頁
解決方案
產業
光電
VCSELUV LEDsQuantum cascade lasers (QCL)
電子
Power and RF Electronics
太陽能光電光伏
c-Sic-Si back endCIGSCdTeCPVa-Sia-Si
顯示其他
製程
磊晶
IR pyrometry3 wavelength reflectanceIn-situ wafer bowUV pyrometryReflectance Anisotropy Spectroscopy
原子層沉積濺鍍沉積卷對卷製程化學水浴沉積法
Materials
III-Nitride basedIII-Nitride growth on silicon (Gan/Si)InP basedGaAs basedPSSSolar Cell Materials
先進研發
 
 
 
產品
即時量測
EpiTTEpiCurveSpectral systemsPyro 400AbsoluTNEPtuneInspiReEpiRAS
線上量測
ILMetroX LinkPearLEddyCusFlames
At-line Metrology
EpiXX Link off-line
EpiNetOEM solutions
 
 
 
關鍵技術
量測方式法
三種波長反射率反射率和穿透率紅外線測溫紫外線測溫偏折量測光激發螢光渦電流感測反射異向性光譜法 (RAS)
先進製程控制
錯誤檢測批間控制即時回授控制
 
 
 
支援
我的帳戶請求支援Service Partners服務組合
 
 
 
最新消息/活動
最新消息新聞集錦活動訊息研討會Newsletter Library
 
 
 
公司
關於我們Supervisory board聯繫我們關於我們Global sales network徵才品質承諾
 
 
 

Sitemap

首頁
解決方案
產業
製程
Materials
先進研發
產品
即時量測
線上量測
At-line Metrology
EpiNet
OEM solutions
關鍵技術
量測方式法
先進製程控制
支援
我的帳戶
請求支援
Service Partners
服務組合
最新消息/活動
最新消息
新聞集錦
活動訊息
研討會
Newsletter Library
公司
關於我們
Supervisory board
聯繫我們
關於我們
Global sales network
徵才
品質承諾
 
解決方案
產業
製程
Materials
先進研發
產品
即時量測
線上量測
At-line Metrology
EpiNet
OEM solutions
關鍵技術
量測方式法
先進製程控制
支援
我的帳戶
請求支援
Service Partners
服務組合
最新消息/活動
最新消息
新聞集錦
活動訊息
研討會
Newsletter Library
公司
關於我們
Supervisory board
聯繫我們
關於我們
Global sales network
徵才
品質承諾

LayTec AG  |  Seesener Str. 10-13  |  10709 Berlin, Germany  |  Tel.: +49 (0)30 89 00 55-0   |  Fax: +49 (0)30 89 00 55-180  |  Email: info@laytec.de | LinkedIn

Sitemap | Imprint | Privacy Policy | Terms & Conditions