PearL

PearL 監測系統分析探測表面經激光光激發後的光致發光輻射光譜。專門為即時整合進生產線所設計。光激發螢光(sPL)可取得能隙、電子缺陷和材料相關組成的資訊,如鎵/(鎵+銦)比值和 CIGS 太陽能電池中銅的含量比例。LayTec 的 sPL 具備以上量測且分析時間僅 100 ms。

PearL 在生產條件下的優勢:

  • 整個模組於不同點上的確切 CIGS 特性描述;
  • 以分辨關於能隙、材料組成和 CIGS 吸收層材料品質資訊。
  • 吸收層沉積後直接分析,不影響其他層;
  • 在成本密集的後段製程前辨識出有缺陷的基板;
  • 僅 0.1 秒的量測時間。

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產品敘述:PearL 以 LayTec 的模組化平台為基礎進行在線光學調校設定。單一 PearL 控制器可接多達三個光學頭,以同時監控移動樣品上的三個位置。如此可以精確監測從中心到邊緣的材料組成一致性。
一個控制器單元含有所有光學和電子元件,包括即時嵌入控制器,以達最佳可靠度。光纖引導控制器單元和量測位置之間的量測光。微型量測頭以最小尺寸提供最佳的光學效能。連接至控制單元的量測電腦能精密地自動化分析、監測和儲存資料。此外,PearL 也可以透過多種協定整合進生產機器和軟體系統,如 OPC、Ethernet、ProfiBus 等。
在PL峰值位置測量的典型精度為 ± 0.5 nm。依此解析度,對 CIGS 中鎵成分的敏感度為 ± 0.01 GGI,其中 CCI 是鎵/(鎵+銦)質量比值。

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欲瞭解 PearL 如何最佳化您的 CIGS 製程,請聯繫 mail@laytec.de 或撥 +49(0)30 89 00 55-0。

Product information:

Fields of application:

  • Fast detection of the effective Ga content of the absorber in CIGS-based production lines
  • Product version for CdTe absorbers also available


Product features

  • Adaptable to every in-line process via customized optical heads and mounts
  • In-line integration for 100% inspection of produced modules
  • Spatially resolved spectral photoluminescence measurements through multiple heads
  • Fast data acquisition for in-line measurements on moving substrates
  • Up to 10 measurements per second
  • Automated spectrum analysis calculation of key parameters e.g. Ga/(Ga+In) and Cu content of CIGS layers
  • PV-line software integration via Profibus, Ethernet, TCP/IP or other protocols for automated operation


Product news

PearL qualified for CIGS monitoring in high-volume PV production


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