Search for:
language
English
한국어
日本語
简体中文
繁體中文
Sign in
Newsletter
Contact
LayTec
> 主页
主页
解决方案
工业
光电
VCSEL
Chinese
Quantum cascade lasers (QCL)
电子
Power and RF Electronics
光伏
c-Si
c-Si back end
CIGS
CdTe
CPV
a-Si
显示屏
其他
制程
外延
IR pyrometry
3 wavelength reflectance
In-situ wafer bow
UV pyrometry
Reflectance Anisotropy Spectroscopy
原子层沉积（ALD）
溅射沉积
卷对卷
化学水浴沉积（CBD）
Materials
III-Nitride based
III-Nitride growth on silicon (Gan/Si)
InP based
GaAs based
Chinese Title
Solar Cell Materials
高级研发
产品
原位测量
EpiTT
EpiCurve
Spectral systems
Pyro 400
AbsoluT
NEPtune
EpiRAS
在线测量
ILMetro
PearL
X Link
EddyCus
Flames
At-line Metrology
EpiX
X Link off-line
EddyCus TF lab
EpiNet
OEM solutions
核心技术
测量方法
3 波段反射率测量
反射率和透光率
红外线（IR）高温计
紫外线（UV）高温计
偏折
光致发光
涡流传感
非等向性反射光谱 （RAS）
高级制程控制
故障检测
批次间控制
批次间控制
支持信息
我的账户
支持请求
Service Partners
服务组合管理
新闻/活动
新闻
活动
资讯
研讨会
Newsletter Library
公司
关于我们
Supervisory board
联系我们
关于我们
Global sales network
招贤纳士
品质承诺
雷泰—高级制程的综合性测量
综合性测量的优势：
快速识别和纠正制程偏差
优化薄膜质量
提高生产效率和产量
将已建立的制程快速转换为新的生产线
快速定位新材料和制程
新闻
GaN/Si大功率电子设备使用Pyro 400时的准确晶片温度
Gen3：新一代现场计量技术的新特征
紫外线LED
Further news
Meet LayTec at ...
SPIE Photonics West, SF, CA, USA
Further events
